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Absorción dieléctrica
Abstracción
Acceso/Gestión
Acceso/Método
Acción correctiva
ACK
Acoplador
Acoplador/Direccional
Acoplamiento/Modos
Acoplar
Acoplar/Capacitivo
Acoplar/Red
Activo
Actuador eléctrico
Adaptación
ADC
ADSL
AFE
AFNOR
AgNi
AGP
Aislamiento
Aislamiento/Básico
Aislamiento/distancia de...
Aislamiento/Doble
Aislamiento/Funcional
ALE
Algoritmo
Almacenamiento
AML
AMOLED
Amortiguamiento
Amortiguamiento/Coeficiente
Amplitud
Análisis de costos
Análisis de riesgos
Analizador de espectro
Anfitrión
ANSI
Antena
Antena/Bicónica
Antena/Bocina
Antena/FBR
Antena/Ganancia
Antena/Isotrópica
Antena/Tipos
Apantallamiento
Aparato
API
Aplicación
AQL
Archivo
Arco eléctrico
ARM
Armónico
ARPA
Arquitectura
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ASCII
ASL
ASTM
ATM
Automático
Avería
AVL
AWG
B
B2B
Backplane
Balun
BCD
BDM
BER
Bias
Biblioteca
Big-endian
BIOS
BIST
Bit
BITE
BJT
BJT/Multiplicador
BJT/Regiones
BJT/VCEO
Blindaje
Bloque funcional
BME
Bobina
BOM
Boost
Boot
Borna
Bridge
Broadcast
BSDL
BSP
bss
Buck
Buffer
Builtroot
Burning
Burst
Burst-mode
Bus (Comunicaciones)
Bus (Informática)
Bus de campo
Byte
C
C0G
Cable
Cable plano
Caché
Calibración
Calidad
Cámara anecoica
Campo (Física)
Campo/Eléctrico
CAN
Canal
Capa
Capa de enlace de datos
Capa de red
Capacidad del proceso
Caracterizar
Carga
Carril DIN
Categoría de utilización
Cátodo
CCD
CCF
CCM
CCO
CDN
CDP
CEN
CENELEC
CEO
CEPT
Certificación
CFO
CG0
CheckSum
Ciclo de ejecución
Ciclo de vida
Circuito
Circuito secundario
CISPR
Clamp
Clase (Informática)
CLB
CLI
Cliente
Clipper
Cluster
CMOS
CMR
CMRR
Coating
Coaxial
CODA
Codificar
Código máquina
COFF
Cold Boot
Colisión
Comparador
Compatibilidad
Compilador
Componente
Componente (Electricidad)
Componentes
Comunicaciones
Concepto
Conceptos
Condensador
Condensador/X1X2
Condensador/Y
Conductor
Conductor/Neutro
Conexión/Equipotencial
Conformidad
Constante
Constante/de tiempo
Contacto
Contactor
Contaminación
Contexto operacional
Coordinación
Coprocesador
Core
Corriente
Corriente de irrupción
Corriente/Directa
Cortocircuito
COTS
CPLD
CPU
CRC
Creepage
Crosstalk
Crowbar
CSM
CSMA/CD
CSRM
CSS
CSV
CTCSS
CTI
CTR
CTS
Cuadripolo
Curva de la bañera
CWG
D
DAC
Daisy Chain
DARPA
Datagrama
DCE
DCM
DCP
DDR
DDS
Defecto (Calidad)
Defecto (Electricidad)
Degradación
Demodulación
Depuración
Deriva
Desacoplo
Desarrollo
Descarga
Descarga disruptiva
Descarga parcial
Descarga/Atmosférica
Descarga/Atmosférica/Directa
Descargador
Desviación
Detector
Detector de envolvente
DF
DFMA
Diagrama de bloques
Dieléctrico
Dieléctrico/Envejecimiento
Dieléctrico/Rigidez
Dieléctrico/Rotura del...
Diferencial
DIN
Direccionamiento
Directorio
Diseño
Display
Disponibilidad
Dispositivo
Dispositivos
Distorsión
DMA
DMM
DNC
DNP
DNS
Dominio de la frecuencia
Dominio temporal
DRC
Driver
DSO
DSR
DTE
DTL
DTR
Dúplex
Durabilidad
DVI
DVT
E
EBI
EBX
ECL
ECSQ
EEPROM
Efectividad
Eficiencia
EFT
EIA
Electricidad
Electricidad/Carga
Electrónica
Elemento
EMC
EMC/Margen
EMC/Preconformidad
EMI
EMI/Conducida
EMI/Depuración
Emisión conducida
Emisión radiada
EMP
EMR
EMS (Calidad)
EMS (EMC)
En tensión
Encaminamiento (Comunicaciones)
Encaminamiento (Seguridad)
Encapsulación
Encapsulado
Encapsulado/Fallo
Ensayo
Envolvente
EOL
EOS
EP
EPROM
Equipo
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Esclavo
ESD (Compatibilidad)
ESD (Comunicaciones)
Espectro
Espectrograma
ESR
Estándar
Estrella
ETA
ETD
Ethernet
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EUT
Evidencia objetiva
EVT
Exposición
F
Factor de forma
Fading
Failover
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Fallo
Fallo primario
Fallo secundario
Fallo/Dispositivo
Fallo/modo de...
Fallo/Peligroso
Fallo/Tolerante
Falso negativo
Falso positivo
Fan Out
Fase
FAT
FAT (Informática)
FCC
FCS
FDDI
Ferrita
FET
FFC
Fiabilidad
Firmware
Flanco
Flash
Flicker
Flyback
FMEA
FPC
FPGA
Framework
Front end
FRR
FSA
FSB
FSK
FSM
FSR
FTP
Fuente
Fuente de corriente
Full Duplex
Función de seguridad
Función de transferencia
Función requerida
G
Gabinete
GAL
Ganancia
Gateway
GCC
GDS
GDT
GIF
Glitch
Glue Logic
GND
GPIO
GPR
GPRS
GPS
Grouding Braid
Ground
GSM
GTEN
GUI
Guía de onda
H
HAL
Half Duplex
Handle
Handshake
Hardware
HART
Harvard
HASL
HAZ
HBM
HCS
HD
HDD
HDL
HDLC
HDMI
Herencia
HFT
Hilo
Host
Hosting
Hot Boot
Hot Swap
HSL
HTML
HTTP
HUB
I
I/O
I2C
IaaS
IANA
IDC
IDE
IEC
IECQ
IEEE
IETF
IGMP
IGMP/Snooping
ILP
Imm.Ag.
Imm.Sn.
Impedancia
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Impulso
Impulso/Cresta
Impulso/Rayo
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Inalámbrico
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Índice
Índice/A
Inducción
Inducción/Eléctrica
Inducción/Magnética
Inductor
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Instrumentación
Instrumento
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Interfaz
Interpretar
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Interruptor/Automático
IO-Link
IOB
IP
IPC
IRIG-B
IRQ
ISA
ISBN
ISO
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JEDEC
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JTAG
Juego de instrucciones
K
Kernel
KLT
L
LAB
LAN
Lead frame
LED
LEMP
LIDAR
LIF
Línea de fuga
Línea de transmisión
LISN
Lissajous
Little-endian
LLC
Loader
Lógica Programable
LoRaWAN
LPDA
LPWAN
LPZ
LUT
M
M2M
MAC
Maestro
Magnetotérmico
Magnitud
Manipulador
Mantenibilidad
Mantenimiento
Marcado
Marcado CE
Marking
Masa
Master
MCU
Medidor de intensidad de campo
Medio
Medir
MELF
Memoria
Memoria/Caché
Memoria/Secundaria
Mensaje
Mensajería
Método (Informática)
Microprocesador
Middle-endian
Middleware
MII
Mils
MIPS
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MMF
MMI
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Modelo (Electrónica)
Modem
Modo diferencial
Modulación
Modularidad
Módulo
MOM
Monoestable
MOQ
Mortandad infantil
MOS
MOSFET
MOV
MP
MPEG
MPI
MPN
MPU
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MSI
MTBF
MTTR
Muestreo
Multicast
Multiplexor
Multiprocesador
N
NAS
NC
Network Analyzer
NEXT
NFS
Nibble
Nivel
NMI
NO
Nodo
Norma
Normalización
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NPR
NRND
NRZ
NRZI
NTC
NTF
NVM
O
OAL
Objetivo
Objeto (Informática)
OBS
OCP
OEM
OFF
Offset
OM
ON
Onda completa
Onda cortada
Onda de choque
Onda doble exponencial
Onda electromagnética
Onda reflejada
OOP
Operario
Ortogonalidad
OS
Oscilador
Osciloscopio
OSI
P
Pad
Paginación
PAL
Pantalla
Paquete
Paquete/Conmutación
Paradigma
Parámetro
Parámetros/Concentrados
Parte accesible
Parte conductora
Patrón de fallo
PCB
PCM
PCMCIA
PCN
PDA
PDI
PE
Peligro
Perdida de retorno
Perdida de retorno/Puente
Perforación
Periférico
Periodo
Permeabilidad
Perturbación
Perturbación/Conducida
PGS
PHY
Piezoelectricidad
Pin
PIO
PIRE
PLC (Calidad)
PLC (Electrónica)
PLCC
PLD
PLM
PMD
PNG
PoF
POF
Polaridad
Polarizar
Poliformismo
Polling
Polución
PoR
Portabilidad
POSIX
POST
PowerPC
PPEP
PPI
PPP
PPS
Pregunta/Respuesta
Preserie
Press Fit
Probabilidad
Probabilidad condicional de fallo
Procedimiento
Procedural
Procesador
Proceso
Producto
Profibus
Profibus DP
Programa
PROM
Protección
Protectores de sobretención
Protocolo
Protocolos
Prototipo
Proyecto
Proyectos
Prueba
PSRR
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PTC
PTH
Publicación/Suscripción
Puerto (Electricidad)
Puerto (Electrónica)
Puerto (Informática)
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Pull-Up
Pulso
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QoS
QSOP
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R
R_Prueba
Radiación
Radiación/Diagrama
Radiación/Electromagnética
Radio
Ráfaga
RAID
RAM
Rango dinámico
Raster
Rayo
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RDS
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Reparación
Requisito
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RFC
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Seguridad funcional
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Semidúplex
SEMP
Sensor
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Señal/Analógica
Señal/Digital
Señal/Integridad
Señal/Modo común
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SEPCR
Servidor
SFX
Shell
Shunt
Siglas
SIL
SIMM
Símplex
Sincrónico
Síntesis
SISC
Sistema
Sistema de protección (Electricidad)
Sistema eléctrico
Sistema/Abierto
Sistema/Distribuido
Sistema/Embebido
Sistema/Seguro
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Slave
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Slot
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SNR
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SOAP
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Sobretensión/Atmosférica
Sobretensión/Ensayo
Sobretensión/Maniobra
Sobretensión/Temporal
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SOIC
SoM
SOP
SoPC
SP
Spark Gap
SPD
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SPI
SPOF
SPST
SRS
SSL
SSOP
ST
Step Down
Step Up
STP
STTE
Stub
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Susceptibilidad radiada
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SWR
T
Tarjeta gráfica
TBU
TCK
TCP
TCT
TDDB
TDI
TDO
Tecnología
Telemática
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TEM/Celda
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Terminal (Electricidad)
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TFTP
THR
TIA
Tiempo de almacenamiento
Tiempo de respuesta
Tierra
Tierra funcional
Tierra/EPR
Tierra/Instalación
Tierra/Protección
Tierra/Toma
TISP
TMS
ToF
Toolchain
Topología
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UML
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Unidad funcional
Unidad léxica
UPS
USB
Usuario
UTP
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Validación
Varistor
VBW
VDE
Verificación
VHDL
VIA
Voltage Clamping
Voltaje de bloqueo
Voltaje de impulso nominal
Voltaje de ruptura
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Voltaje máximo de aislamiento transitorio
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